样品厚度对X-射线荧光分析结果的影响

作者：曹年凤

来源：世界有色金属, 2019, (10): 149-150.

• x-射线
• 地质样

利用X-射线荧光光谱仪(XRF)结合windows CE 6.0的Innov-x专用分析软件快速对钨矿石中钨的含量进行测定。对同一批样品采用XRF专用杯膜进行快速测定,并讨论样品厚度对钨检测结果的影响。实验表明,当对WO3在1.5%以下的样品测定钨结果的相对标准偏差(RSD,n=3)在0.003%～0.046%之间。通过钨矿石化学分析方法论证测定值均在误差范围内。通过对多个样品的分析比对,实验方法的分析结果与常规化学测定值基本一致,符合地质样分析规范要求。

• 单位
  湖南有色新田岭钨业有限公司