电子元器件的断裂失效原因分析

作者:林黄智; 田柳
来源:太原学院学报(自然科学版), 2022, 40(04): 47-51.
DOI:10.14152/j.cnki.2096-191X.2022.04.010

摘要

某电子元器件导线在使用过程中发生断裂,通过宏微观断口、剖面组织、微区成分和显微硬度等检测手段,对电子元器件导线的断裂原因进行了分析,并提出了预防措施。结果表明:铜镁导线材料化学成分符合标准规范要求,拉伸性能略低于技术规范要求;电子元器件导线的部分单线表面局部分布有不同尺寸横向压痕,不符合电子元器件用铜及铜合金导线规范要求。电子元器件导线整体在弯扭应力作用下,在表面横向压痕处发生应力集中,疲劳裂纹优先从受力较大单线的压痕缺陷处起始,并顺着弯扭应力方向扩展一定距离后斜向剪切瞬断。在实际应用过程中,应该注意对电子元器件的外部进行保护,以免由于磕碰、挤压等在导线外表面形成损伤。

  • 单位
    安徽职业技术学院