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摘要
目前矿石中低含量钨的测定方法一般采用分光光度法以及ICP-AES法,随着分析技术手段的不断开发创新,ICP-MS法在痕量分析领域上优势明显。本文利用ICP-MS高分辨率、高灵敏度、低检测限、快速分析等优点,建立一种新的仪器分析检测方法,满足工业生产中对于钽铌矿中低含量杂质元素钨快速分析的要求,优于现行的行业标准制定的分析方法。经检验,ICP-MS法的分析结果准确、可靠,可在实际中应用。
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目前矿石中低含量钨的测定方法一般采用分光光度法以及ICP-AES法,随着分析技术手段的不断开发创新,ICP-MS法在痕量分析领域上优势明显。本文利用ICP-MS高分辨率、高灵敏度、低检测限、快速分析等优点,建立一种新的仪器分析检测方法,满足工业生产中对于钽铌矿中低含量杂质元素钨快速分析的要求,优于现行的行业标准制定的分析方法。经检验,ICP-MS法的分析结果准确、可靠,可在实际中应用。
