摘要
目的:探讨心房颤动导管消融过程中应用压力感知(ST)导管与心脏压塞发生之间的关系。方法:回顾性收集2013年1月至2016年12月,在首都医科大学附属北京安贞医院心房颤动中心行心房颤动导管射频消融术患者,采集围手术期临床资料,以非压力导管(TC)为对照组,利用多因素回归模型分析ST导管与心房颤动消融心脏压塞发生的关系。结果:本研究纳入患者5 419例,共进行6197次射频消融术,发生心脏压塞45例。ST组心脏压塞发生比例高于TC组(0. 9%vs. 0. 5%,P=0. 023)。心脏压塞患者中,TC组中延迟心脏压塞发生比例高于ST组(50. 0%vs. 6. 1%,P=0. 002); ST组中有2例行急诊开胸心房修补术,而TC组0例。多因素回归分析表明,与TC组相比,使用ST导管增加心脏压塞风险(OR:2. 11,95%CI:1. 23~3. 95,P=0. 02);亚组分析显示,左心房内径<40mm患者、射血分数<64%患者中,ST导管致心脏压塞风险更高。结论:心房颤动消融ST导管的使用增加心脏压塞发生的风险。
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单位华中科技大学同济医学院; 北京市心肺血管疾病研究所; 公共卫生学院; 首都医科大学附属北京安贞医院