基于蒙特卡洛(MC)方法与快速傅里叶变换微磁学(FFTM)方法，模拟了不同厚度层叠阵列钴纳米环的磁化动力学特征。研究发现，厚度不同的钴纳米环的磁滞回线均出现“双稳态”特征，且系统的“涡旋态”的形成及稳定性与厚度明显相关。进一步研究表明，纳米环层叠阵列的厚度对系统达到饱和所需要的外磁场有较大的影响。磁滞回线的台阶宽度△Hfc也与厚度相关。模拟结果与实验事实接近。
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