一种无磁屏蔽环境下低温超导约瑟夫森结电流测试方法

作者：周健; 王娟; 王永良; 彭炜

来源：2023-09-19, 中国, CN202311206205.0.

本发明涉及一种无磁屏蔽环境下低温超导约瑟夫森结电流测试方法,包括以下步骤：将待测样品放置于样品架上,并将样品架置于所述测试杆底部；将测试杆插入灌满液氦的杜瓦中,测量所述待测样品温度；当所述待测样品的温度低于预设温度时开始测量所述待测样品的I-(cij),测量m次,根据测量的m次结果求取平均值I-(ci-av)和不确定度U-i,并对所述待测样品进行加热去磁通操作；判断当前测试的轮次是否到达设置轮数n,当未到达时进行下一轮测试,当到达时根据得到的多对平均值I-(ci-av)和不确定度U-i构建关系模型；基于关系模型求取U-i＝0时的平均值I-(ci-av),将得到平均值I-(ci-av)作为无屏蔽环境下的临界电流I-c的经验值。本发明解决现有无并联电阻低温超导约瑟夫森结临界电流测量成本高,精度偏低的问题。

• 单位
  中国科学院上海微系统与信息技术研究所