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摘要
傅里叶叠层显微术（Fourier Ptychographic Microscopy, FPM）通过采集不同照明角度下的一组低分辨率强度图像，并利用合成孔径与相位恢复技术拼接融合，实现了大视场和高分辨率的定量复振幅成像。精确的频谱位置是重构算法的重要先验知识，对获得高质量的重构图像至关重要。因此，校正决定图像频谱位置的照明光源位姿成为了实现鲁棒FPM系统的重要工作。近年来，多种校正照明光源位姿的方法相继被提出：采用多自由度精密机械平台校准的机械校正法、根据采集图像强度或频谱信息的数据驱动校正法及基于显微镜光学原理的成像机制校正法。本文简要介绍了FPM的基本原理和光源的位姿偏差，对3类校正方法的原理和特点进行了综述。机械校正法可以从源头上消除位姿偏差，但费时费力；数据驱动校正法能够自动校正位姿偏差，但存在校正时间长和校正参数耦合的问题；成像机制校正法不仅校正鲁棒性高，还能够从多种系统误差中分离出准确的位姿参数，是一种极具发展潜力和应用前景的校正方法。
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