X射线装置豁免管理的技术认定方法研究

作者:翟江龙; 杨磊磊; 王建平; 王孝辉; 朱国英*
来源:环境与职业医学, 2019, 36(04): 400-406.
DOI:10.13213/j.cnki.jeom.2019.19037

摘要

[目的]根据豁免基本准则要求,通过对辐射剂量测量仪器性能的实验研究和屏蔽材料衰减特性曲线蒙卡模拟,建立对X射线装置豁免管理的技术认定方法。[方法]利用防护水平X辐射空气比释动能率标准装置,对市售且具有一定使用频次的8类典型辐射剂量测量仪器在10~60 kV加载管电压范围、不同管电流档的仪器能响和读数稳定性等性能指标进行实验验证,计算校准因子;同时,通过蒙卡模拟计算,建立铅、铁、铝、铜、钨和有机玻璃6种常用屏蔽材料对X射线的衰减特性曲线。[结果]8类辐射剂量测量仪器对10 kV及以下X射线均无响应;对20 kV能量X射线,6类仪器有响应,但获得的校准因子差异明显,范围为0.7~11.1;对于30 kV能量X射线,8类仪器均有响应,但校准因子差异较大;对40 kV能量X射线,8类仪器均有响应,其中6类仪器校准因子已接近1,且不受管电流值改变的明显影响;只有60 kV能量X射线,市售8类辐射剂量测量仪的校准因子均接近1。即使同类型测量仪器,60 kV以下时校准因子随管电压也变化较大,且不与管电压呈线性关系。使用蒙卡程序模拟计算并建立的10~100 kV的X射线衰减特性曲线,可用于对不同能量尤其是40 kV以下能量X射线经特定厚度材料屏蔽后泄漏剂量率估算。[结论]本研究建立了X射线装置豁免管理的技术认定方法:对于加载管电压40 kV及以上X射线装置,可使用满足技术性能要求且经相应能量档校准的测量仪进行检测和豁免认定;对于加载管电压40 kV以下X射线装置,可采用衰减特性曲线估算X射线装置表面0.1 m处周围剂量当量率H*(10)进行豁免认定。

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