摘要
为探究瓠瓜枯萎病的抗性遗传规律,本研究以高抗枯萎病的瓠瓜自交系H04为父本,高感枯萎病的瓠瓜自交系H11Ta为母本,配制杂交组合,构建六世代 (P1, P2, F1, F2, BC1P1, BC1P2)群体,采用伤根灌根法对六世代群体进行瓠瓜枯萎病抗性的表型鉴定,利用SEA软件对统计结果进行“主基因+多基因混合遗传模型”分析。结果表明,瓠瓜枯萎病的抗性遗传符合“MX2-ADI-AD”遗传模型,由2对加性-显性-上位性主基因+加性-显性多基因控制,F2群体的主基因遗传率为63.936 3%。本研究为瓠瓜枯萎病抗性主效基因的定位及抗病品种的选育提供理论参考。
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