针对片状颗粒厚度检测的实际需求,结合机器视觉、图像处理和嵌入式技术,设计与实现了一套基于高性能ARM11的微片状颗粒厚度检测系统。该系统以QT和S3C6410为软硬件平台,提出了利用轮廓提取和最小矩形边界框相结合的方法计算片状颗粒厚度。结果表明,该检测系统具有处理速度快,测量精度高和成本低廉等优点,满足了对颗粒厚度测量的需求。
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