摘要

与常规变形铝合金材料相比,Si Cp/Al复合材料会出现Al偏析、贫Si Cp带(Al线)和Si Cp团聚3类典型缺陷。采用常规A型脉冲反射法检测时,存在对这3类典型缺陷检出能力低、缺陷定量偏差大的问题。针对此现象,设计了与典型缺陷界面相同的模拟试块调节检测灵敏度,并结合相控阵检测方法对材料进行检测。实验结果表明,缺陷与被检测材料之间的声阻抗差异,以及超声声束与缺陷的位置关系是影响缺陷检出能力低和缺陷定量偏差大的主要因素。模拟试块调节检测灵敏度和多角度相控阵检测方法相结合的新方法,有效解决了Al偏析、Al线和Si Cp团聚缺陷回波低、发现难的问题,同时提高了缺陷定量的精度。

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