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摘要
针对SRAM型FPGA在空间辐射环境下易发生单粒子效应，影响星载设备正常工作甚至导致功能中断的问题，开展了SRAM型FPGA单粒子效应地面辐照试验方法研究，提出了配置寄存器和BRAM的单粒子翻转效应测试方法，并以Xilinx公司工业级Virtex-5系列SRAM型FPGA为测试对象，设计了单粒子效应测试系统，开展了重离子辐照试验，获取了配置寄存器、BRAM以及典型用户电路三模冗余前与三模冗余后的单粒子翻转效应试验数据和器件单粒子闩锁试验数据。最后利用在轨预示分析软件针对高轨环境进行了在轨翻转率分析，基于CREME96模型计算得到该器件的配置寄存器每比特翻转概率为6.41×10-7次/天，每器件翻转率为31.6次/天。
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单位中国空间技术研究院; 西北工业大学
