基于不同分析模型的大豆叶片SPAD值和LAI光谱估算比较

作者：唐子竣; 向友珍^*; 王辛; 安嘉琪; 郭金金; 王晗; 李志军; 张富仓

来源：大豆科学, 2023, 42(01): 55-63.

• 随机森林
• 光谱技术
• 大豆
• 鼓粒期
• SPAD值
• 叶面积指数

为探讨在大豆鼓粒期采用光谱技术估算叶片SPAD值和LAI的有效分析模型和方法，本研究以大田鼓粒期大豆为试验材料，在3个不同时段9:45～10:15(10AM)、11:45～12:15(12PM)和13:45～14:15(2PM)测量冠层全波段光谱反射率，并分别使用极限学习机(ELM)、偏最小二乘回归(PLSR)、支持向量机(SVM)和随机森林(RF)构建大豆叶片SPAD值和LAI估算模型，并对比不同模型分析结果的估算精度。结果表明：在各模型中，12PM和2PM测定的光谱反射率与大豆叶片SPAD值和LAI的拟合精度均高于10AM。基于RF的大豆叶片SPAD值估算模型验证集的R2为0.910,RMSE为2.006,MRE为3.684;基于RF的大豆LAI估算模型验证集的R2为0.916,RMSE为0.209,MRE为4.383,与ELM、PLSR和SVM相比，有更高的估算精度。综上结果说明大豆鼓粒期在11:45～12:15和13:45～14:15采用RF模型，运用全波段的光谱反射率估算大豆叶片SPAD值和LAI可得到较准确的结果。

• 单位
  西北农林科技大学; 建筑工程学院