基于探针连接器的弹性测试技术研究

作者：吕英飞; **睿; 陈涛; 笪余生; 廖翱; 肖晖

来源：电子与封装, 2020, 20(09): 20-23.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0914

• 探针
• 弹性测试
• 射频

采用压接式探针连接器对BGA封装微模块进行高效率、无损伤测试会发生测试曲线畸变失真现象。仿真分析测试模具引入导致"微模块-测试模具-测试板"组成的测试系统性能变差的原因。详细分析了介电常数、限位间距、限位间隙等参数对系统射频传输性能的影响,发现介电常数和限位间隙的变化对系统性能的影响较大,限位间距变化时系统的性能几乎不变。

• 单位
  中国电子科技集团公司第二十九研究所