钽酸锂晶体高温富锂扩散工艺的研究

作者：杨金凤; 商继芳; 李清连; 毛乾辉; 郝好山; 孙军^*

来源：人工晶体学报, 2020, 49(06): 1010-1015.

DOI：10.16553/j.cnki.issn1000-985x.20200518.001

• 钽酸锂晶体
• 组分
• 近化学计量比
• 扩散

为了采用扩散法制备大厚度近化学计量比钽酸锂(nSLT)晶体,本文从富锂多晶料配比及合成工艺、极化工艺和扩散条件等方面对钽酸锂晶体高温富锂扩散工艺进行了研究,对处理后晶片组分、畴反转电压和光学均匀性进行了表征,研究了扩散条件对晶体组分的影响。结果表明,富锂多晶料锂钽为60/40时较佳,多次使用对所制备晶片组分、畴反转电压和光学质量无明显影响。在研究基础上,制备了系列nSLT晶片,晶片厚度最大为3.2 mm,其组分达到化学计量比且组分均匀,矫顽场约为152 V/mm,晶体光学质量满足实用需求。

• 单位
  南开大学; 河南工程学院