本发明公开了一种基于中子光栅干涉仪的暗场成像方法,其特征包括：1移动光栅,将中子光栅干涉仪的工作点固定在光强曲线的峰位；2分别获取背景投影图像和被成像物体的投影图像；3移动光栅,将中子光栅干涉仪的工作点固定在光强曲线的谷位；4分别获取背景投影图像和被成像物体的投影图像；5提取被成像物体的暗场信号。本发明能够准确提取被成像物体的暗场信号,克服低光子计数时相位步进法不能准确提取暗场信号的局限性,从而为被成像物体的准确、定量表征提供新途径。
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
