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摘要
对IGBT模块使用寿命进行预测是评估其健康状态和可靠性的有效手段。基于IGBT老化实验测量，构建了包括饱和压降和结温的二维IGBT状态检测指标。对于归一化后的数据，提出了分段处理方法，去除了IGBT键合线断裂引起的较大指标波动。以饱和压降和结温数据为基础，提出了基于BP神经网络算法的IGBT剩余寿命预测模型。针对同样本不同通道、不同实验条件样本等情况，验证了本模型在剩余寿命预测中的准确性。
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单位华中科技大学; 电子工程学院
