摘要

用熔融淬冷法制备了系列掺杂浓度的Dy3+:Ge-Ga-S-CsI硫卤玻璃样品,测试了样品拉曼光谱、折射率、吸收光谱、近红外及中红外荧光谱.应用Judd-Ofelt理论计算了Dy3+离子的强度参数(Ωi,i=2,4,6)、自发辐射跃迁概率(A)、荧光分支比(β)、以及辐射寿命(τrad)等光谱参数.研究了810nm激光抽运下样品中红外荧光特性与掺杂浓度之间变化关系,计算了常温下Dy3+:6H13/2→6H15/2(2.86μm)和6H11/2→6H13/2(4.38μm)跃迁多声子弛豫速率(Wmp)、以及Ge-Ga-S-CsI玻璃基质中电子-声子结合常数(α).