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摘要
在表面缺陷检测的过程中,需要通过预处理增强目标缺陷与背景之间的对比,再进行缺陷与背景的区域分割。而当探测光源在目标表面产生的光照不均匀时,需要先对采集图像进行光照均匀性校正,否则较难进行之后的缺陷目标提取。本文提出了一种基于小波变换和动态阈值的校正方法,适用于不均匀照明下缺陷图像的增强,可以很好地进行照明分量的均衡。与已有方法相比,该方法在光照的均衡效果、普适性、直观性、后续目标区域的提取等方便有显著优势,但是计算时间相对较长。针对该问题,本文使用Vivado HLS设计了IP加速核,将运算效率提高了20倍,可广泛运用在不均匀照明下表面缺陷的识别。
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