基于STM32单片机的简易电路特性测试仪

作者：李申; 陈康宁; 汪帅; 李寒; 贾巍^*

来源：电子制作, 2021, (11): 59-91.

DOI：10.16589/j.cnki.cn11-3571/tn.2021.11.020

• STM32单片机
• ADC检测
• 三极管放大
• 特性测试
• 参数测量

本系统是基于STM32单片机ADC检测的简易电路特性测试仪,用于检测三极管放大电路的基本工作特性,同时可以在电路发生故障时,判断电路故障的位置及原因。本系统以STM32单片机主控模块为核心,电路经DDS信号发生器模块产生所需的正弦波信号,经信号调理网络后进入三极管放大电路,同时在放大电路的输入端串联电阻、输出端并联电阻进行电路特性的检测,分别测量放大电路输入端和输出端信号的幅值及频率,经单片机处理后在屏幕上显示所需结果。本系统可测量放大电路的输入阻抗、输出阻抗、增益放大倍数、以及进行电路故障原因分析。

• 单位
  湖北文理学院