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摘要
以LiF与HCl作为刻蚀剂制备了Ti3C2Tx(MXene)，采用Na OH碱化处理制备羟基终端调控的碱化alk-MXene吸附剂。利用X射线衍射、扫描电子显微镜和X射线光电子能谱等表征手段对制备的吸附剂进行了表征。通过不同碱化浓度及碱化时间对MXene进行调控后，得到表面-OH基团含量不同的alk-MXene，其吸附效果也有所不同，红外光谱表征结果表明，对吸附量产生影响的吸附位点是表面-OH基团。当碱化浓度为3mol/L、碱化时间为1h时，alk-MXene表面-OH基团含量最高，具有最高的吸附量，对亚甲基蓝吸附容量可达95.3mg/g。
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