低介电常数(εr)微波介质陶瓷是未来毫米波移动通讯技术中的关键材料之一,其基本性能参数εr、Qf值及谐振频率温度系数(τf)的精确评价乃是相关研究中最基础的课题之一。TE011模式平行板法及金属谐振腔法为评价微波介电性能的通用方法,但在使用时却存在一些被长期忽视的问题,其对低εr微波介质陶瓷的研究及应用尤为重要。本综述将探讨评价低εr微波介质陶瓷性能时在TE011谐振模式的准确识别、Qf值的测试可靠性及τf的测试可靠性等方面存在的若干关键问题,并给出相应的解决方案。