粉末压片X射线荧光光谱法测定硅铁中各组分

作者：佡云

来源：矿冶, 2014, 23(02): 88-90.

• 硅铁
• X射线荧光光谱法
• 基体校正
• 直接粉末压片法

采用粉末直接压片法,通过基体校正方法,用X射线荧光光谱法测得硅铁中Si,Mn,P,Cr,Al,Ca含量。此方法简便、准确。用10个标准物质制定了工作曲线,并进行了自测。另用2个标准物质作为未知样对工作曲线进行准确度和精度测试,结果令人满意。

• 单位
  沈阳有色金属研究院