<正>随着现代半导体工艺的迅猛发展，超大规模集成电路(VISI)的研发和制造技术日臻成熟，一个普通芯片，甚至由几亿个晶体管组成。随着集成电路设计和制造复杂度的提高，工艺技术的不断创新，电路测试难度大幅度提升，测试成本飙升，因此，自适应测试的发展至关重要，动态地调整测试流程，消除测试模式冗余，减少了测试时间，提升了测试效率，降低了测试成本。
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