氧化锌压敏陶瓷因为其良好的非线性而成为金属氧化物避雷器的核心材料,其运行过程老化是失效的主要原因。关于氧化锌压敏陶瓷的老化机理主要有离子迁移理论和氧解吸附理论,这两种理论都能从一定角度解释氧化锌压敏电阻的老化现象,这两种模型的基础都是建立在晶界处缺陷的非均匀分布导致的双肖特基势垒结构之上的。因此对其中缺陷和势垒结构的研究和控制是理解、改善其老化特性和保护特性的根本途径。基于由缺陷组成的晶界双肖特基势垒模型,简要论述了其老化机理。
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