基于波数扫描干涉的玻璃缺陷及应变场测量

作者：冯家辉; 吴卫增; 宋胜东; 任兴贵; 周延周

来源：电子世界, 2019, (02): 44-45+48.

DOI：10.19353/j.cnki.dzsj.2019.02.020

• 应变场
• 玻璃制品
• 扫描干涉
• 激光二极管
• 玻璃缺陷检测
• 被测件
• 深度信息

<正>为了达到无损检测玻璃制品上的缺陷以及应变场分布规律的目的,故提出一种基于迈克逊干涉仪结构的光学测量方法。该方法通过激光波数扫描的方法,获取样品干涉信号数据,通过数据处理后,获得被测件的深度信息,还原样品的表面轮廓,从而测量出样品是否存在缺陷;通过测量样品加载力前后的应变场,获得样品的力学性能表征。此方法属于无损检测,能有效避免被测件的污染损坏,具有抗干扰能力强、高信噪比、高稳定性的特点,其垂直测量

• 单位
  广州中智融通金融科技有限公司; 广州华夏职业学院; 广东工业大学