科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
硅后验证是寻找硅前阶段逃逸错误的关键环节，随着微控制器复杂性的提高，面对大量的测试用例和参数，使该过程变得低效且耗时.针对该问题，提出一个基于上下位机协同实现的微控制器硅后全自动验证系统.系统下位机为待测硬件平台，上位机在Unittest基础上设计了TLV(type-length-value)报文协议，用Pyvisa和Saleae库实现了示波器和逻辑分析仪的自动控制，用HTMLTestRunner库生成可视化测试报告，用Unittest实现了一键全自动化回归和控制.使用结果表明，该系统测试成本低，测试效率高，复用性强.
- 单位
