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摘要
本发明公开了一种FinFET单管单粒子瞬态效应的测试电路,包括待测N型FinFET管M0、第一电流镜、第二电流镜、第一电阻R0和第二电阻R1,其中,待测N型FinFET管M0的栅极连接外部电源信号VG,漏极同时连接第一电流镜的输入端和第二电流镜的输入端,源极连接接地端；第一电阻R0连接在接地端与第二电流镜的输出端之间,第二电阻R2连接在接地端与第一电流镜的输出端之间；第一电流镜和第二电流镜均用于捕获待测N型FinFET管M0发生单粒子效应后产生的瞬态电流。本发明的FinFET单管单粒子瞬态效应的测试电路,当器件发生单粒子效应后,产生瞬态电流被电流镜捕获,根据电流大小,器件的漏端电压通过内部电路进行偏置,减弱了外加电源对瞬态特性的噪声影响。
- 单位
