基于基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱的琥珀成分分析

作者：***; 沈锡田^*

来源：宝石和宝石学杂志(中英文), 2022, 24(04): 1-9.

DOI：10.15964/j.cnki.027jgg.2022.04.001

• 琥珀
• 基质辅助激光解吸电离
• 质谱
• 化学成分

利用碳膜基质辅助激光解吸电离技术(一种软电离技术)定性分析了不同产地(波罗的海地区、缅甸、多米尼加共和国、墨西哥和中国抚顺)琥珀的正分子离子质谱，讨论了琥珀物质成分的相对分子量分布特征，并探讨了氧化作用对分布特征的影响。研究结果表明：各产地琥珀中能形成正离子的物质的相对分子量相似，分布在分别与琥珀的低、中和高分子量组分相关的质荷比(m/z)范围60～250、250～800和900～1 900内。低分子量组分更易被电离，中、高分子量组分因聚合程度更大而不易被电离。随着成熟度的增加，可被电离出来的组分种类减少，表明其中挥发性组分的含量减少。当氧化程度增加时，低分子量组分种类和丰度减少，而中分子量组分有增加趋势。