基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术

作者：王欣; 李银辉

来源：核电子学与探测技术, 2012, (08): 968-970.

• 边界扫描
• Test Director6
• 板级测试
• JTAG Boundarg scan
• JTAG
• Test Director6
• BST

在国内首次介绍了Qmax公司的Test Director6开发工具在JTAG测试中的应用,并首次提出了利用Test Director6进行基于JTAG技术的板级测试方法。实验证明,该方法成熟高效,能有效提高测试效率和测试可靠性,具有较大的实用价值。

• 单位
  中国工程物理研究院电子工程研究所