集成天线的多通道瓦片式T/R组件测试

作者：杜宝晨; 陈文俊; 张英浩; 戚珑赢

来源：太赫兹科学与电子信息学报, 2021, 19(01): 80-95.

• 瓦片式T/R组件
• 辐射对比法
• 近场测试
• T/R组件测试

雷达T/R组件的集成度越来越高,已出现了将天线也集成在组件上的多通道瓦片式收发T/R组件。由于天线的集成,传统的传导测试方法无法对这种新结构T/R组件的电路性能进行直接测量。针对该问题,提出一种辐射对比测试方法,采用辐射法先对T/R组件天线单元进行测试,然后对集成天线的T/R组件进行测试,最后将天线对T/R组件电路性能的影响扣除,得到T/R组件电路的各项性能参数。在分析测试原理的基础上,对一种集成天线的多通道X波段的瓦片式T/R组件发射峰值功率、通道间相位一致性和接收增益等指标进行了试验测试,测试结果与电路直接测试对比,幅度误差<0.69 dB,相位误差<10.5°,满足工程应用需求。

• 单位
  中国船舶重工集团公司第七二四研究所