计算机片外Flash故障的研究

作者：叶心波; 李健; 王前程

来源：计量与测试技术, 2022, 49(01): 57-59.

DOI：10.15988/j.cnki.1004-6941.2022.1.017

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某产品计算机在低温测试过程中出现片外Flash故障,通过对芯片读写状态的分析,发现在低温状态下,芯片复位不充分产生的故障,深层次地分析Flash芯片的工作模式,利用冗余读操作,启动芯片内部状态机的运行,使芯片再次复位,解决此故障。

• 单位
  中国空空导弹研究院