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摘要
以晶体硅电池片为研究对象，对电池片出现栅线发暗区域进行分析。采用了SEM扫描、EDS元素分析及烘箱模拟硫化加速等多种分析测试方式，确认栅线发暗是银发生了硫化。同时对此硫化现象的影响因素进行了分析，证明与电池片表面硫含量、封装后电池片所处环境温度、封装包材三者相关。实验表明电池片生产过程中环境中的硫含量越高，电池片越容易硫化；电池片存储或运输温度越高，电池片越容易硫化；封装包材中，EVA泡棉整体为多层孔状结构，可以促进硫化反应的发生，中空板表面为平面结构，可以抑制硫化反应的发生。电池片的栅线硫化不影响其组件的发电性能及可靠性。分析结果有助于电池片厂家解决硫化问题，也有助于组件厂家在遇到有硫化电池片的组件时，分析对组件性能的影响。
