文章基于不同的应力加速模式对LED芯片进行寿命试验，比较应力加速模式和正常老化模式的光电参数、LED电流和结温变化，分析加速应力和光通量衰减等参数之间的关系，分析测量光参数可能出现的突变点，确定温度加载极限。根据不同组合加速测试方法，对相关测试数据进行曲线拟合，分析测试结果的合理性并推断所选取样品的老化寿命。结果表明：“高温+电气”组合应力加速寿命试验方法具有可行性。
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