国产高可靠固态厚膜熔断器脉冲老化寿命研究

作者：彭昌文; 杨舰; 孙鹏远; 雷巧林; 杨成

来源：电子产品可靠性与环境试验, 2018, 36(04): 30-35.

• 高可靠
• 固态厚膜熔断器
• 脉冲老化
• 寿命

熔断器在经受一定循环次数的脉冲电流冲击后会产生寿命疲劳,进而发生失效。以航天器用国产高可靠固态厚膜熔断器为研究对象,开展了国产高可靠固态厚膜熔断器的脉冲老化寿命研究。首先,将脉冲宽度、冲击时间作为变化因子设计了不同的试验条件,并在试验过程中监控熔断器冷态电阻的变化量及变化趋势。然后,对试验结果和数据进行了系统、深入的分析,得出了熔断器在不同脉冲老化试验条件下的极限能力,为熔断器的选型提供了借鉴。