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摘要
提出了一种在数据分析中降低堆积事例误差的一种修正方法，并通过塑料闪烁体搭建的宇生μ子时间符合探测器开展寿命测量实验进行验证。寿命测量实验研究表明，主要本底事件来自电子学噪声和堆积事例。为了弥补在本地实验室中，μ子衰变事例在总体宇生μ子事例中较为稀有的短板，我们使用蒙特卡罗模拟程序产生大样本量，进一步验证该分析方法的有效性。修正后的最终实验结果为τμexp=2.19±0.07μs，而修正前的实验结果为τ′μ=2.27±0.07μs。(95%置信度水平)。预计，统计学处理堆积事例的方法将适用于符合测量与堆积事例伴生的同类型实验。
