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摘要
绝缘栅双极型晶体管(Insulated gate bipolar transistor,IGBT)的结温计算对于评估其剩余寿命、保障电力电子变换器可靠运行具有重要意义。传统的热网络法忽略了模块与散热器之间真实的传热过程，难以准确有效计算结温变化，为此，提出一种计及流-热耦合的热网络模型的IGBT结温计算方法。该方法通过考虑流-热耦合的有限元仿真提取得到IGBT模块与散热器的热网络模型，根据易于获取的散热器水温作为温度参考点计算IGBT结温。为验证模型有效性，搭建了功率循环加速老化试验平台提取结温变化曲线。结果表明，所提的热网络模型能够更加真实准确地计算IGBT结温，可以为实际应用中IGBT模块的可靠性评估、剩余寿命预测提供更加真实准确的结温变化数据。
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