安捷伦矢量网络分析仪E5072A射频测控技术应用

作者：邓长开; 唐明津; 胡义平

来源：电子与封装, 2019, 19(05): 8-11.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.0049

• E5072A
• S参数
• P1dB
• IP3

随着5G通信时代的来临,在半导体射频芯片测试中,越来越多新型号的射频芯片需进行高频率(GHz级别)射频测试,以前的低频(MHz级别)射频测试平台已不能满足需求,亟需设计新的测控平台。简单介绍安捷伦E5072A矢量网络分析仪、E5270B精密型IV分析仪以及N5181B射频模拟信号发生器,同时介绍射频测试主要参数S参数、P1dB和IP3。通过硬件集成与VB编程成功搭建新的高频射频测控平台,并分享关键技术与核心指令代码。经过大量的测试验收,新平台不仅满足测试需求,同时也为未来更高频率的芯片射频测控打下技术基础。