X射线成像被广泛应用于医疗健康、工业探伤等领域。相比传统依赖化学显影的照相方式，基于CMOS工艺的X射线图像传感器具有实时输出、便捷性强、成本低、图像质量高等优势，正逐渐成为此领域发展的主流方向。本文将从CMOS X射线图像传感器的检测原理与基本架构出发，介绍其材料优化、像素电路、阵列系统等方面的最新进展，并总结近20年间X射线图像传感器在像素数量、电路架构和工艺等维度的发展和演进趋势。
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