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摘要
随着科技的进步，尖端产品和先进光电系统对光学系统的成像质量要求越来越高，光学非球面元件能有效地校正像差、减少系统所需光学元件数量、减轻系统重量，因此被广泛应用。其特殊的面形特征决定了它的加工和检测相对于球面更加困难，而检测精度直接决定了加工精度，非球面检测技术的重要性显而易见。根据测量原理对光学非球面的检测技术进行了概述；根据目前直接面形轮廓法在光学非球面的加工中应用最广的情况，结合最新检测手段，重点介绍了非球面直接面形轮廓法测量技术；并介绍了近年来日益受到人们关注的自由曲面及面形轮廓法在自由曲面检测的应用；最后总结了光学非球面检测技术的现状和发展趋势。
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单位昆明物理研究所; 机电工程学院; 长春理工大学
