基于X射线CT和DVC方法的电子产品力学测量

作者：王龙; 贾洲侠; 李志强; 魏龙; 侯传涛

来源：强度与环境, 2019, 46(01): 49-56.

DOI：10.19447/j.cnki.11-1773/v.2019.01.008

• X射线断层扫描
• 数字体积相关
• 电子产品
• 全场测量
• 有限元分析

本文总结了近年来国外综合X射线CT和DVC方法在运算电子器件、导弹引信、柔性电子、新型锂离子电池等电子产品力学参量测量中的成功应用。这种新的试验和测量方法不仅可以在无损的情况下对电子产品内部的力学场进行测量,还可以为开展基于真实结构的高保真精细化有限元分析提供依据,具有广阔的应用前景。

• 单位
  北京强度环境研究所