基于IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的测试技术研究

作者：苏波

来源：国外电子测量技术, 2012, (04): 34-37.

DOI：10.19652/j.cnki.femt.2012.04.010

• 可测性设计
• 边界扫描
• IEEE1149.4 design for testability
• boundary-scan
• IEEE1149.4

随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。可测性设计成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对基于边界扫描可测性结构进行了探索,具有重要的理论价值和实际意义。

• 单位
  广西工商职业技术学院; 桂林电子科技大学