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摘要
军用电子元器件在使用过程中,由于芯片自身缺陷可能导致芯片工作性能异常,而有时测试平台不能立刻发现,需要以其他手段进行辅助测试,从而定位工作异常点及存在缺陷。以某型可编程间隔定时器芯片为例,从具体故障入手,通过详细故障定位与机理分析,介绍查找工作异常点的测试方法,并解析归纳测试过程中的注意事项,最后将工作异常点及时反馈给设计部门,协助解决工作性能异常问题。研究对芯片失效分析提供了一种借鉴方案,有助于改善芯片的质量,提升整体设计及制造水平。
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单位中国电子科技集团公司
