多层导电结构厚度电涡流检测的探头提离影响及其消除

作者：龚翔; 贺光琳; 范孟豹; 黄平捷; 周泽魁

来源：化工自动化及仪表, 2008, (03): 42-45.

• 电涡流检测
• 阻抗模型
• 提离
• 厚度检测
• 相角 eddy current testing
• impedance model
• lift-off
• thickness measurement
• phase

研究建立正圆柱空心探头置于多层导电结构上方时的电涡流探头阻抗变化数学模型,从理论上研究了探头阻抗、提离和厚度三者之间的变化关系,揭示了在非铁磁材料多层厚度的电涡流检测中,当厚度发生变化时,阻抗相角会发生较大变化;当提离发生变化时,阻抗相角变化微小这一特性,并且这个结论得到了仿真与实验结果的验证。最后提出多层导电结构厚度的电涡流检测中,根据相角变化来消除探头提离影响的思路。