数字电子电路测试技术分析

作者：周晓芬

来源：中国新通信, 2020, 22(19): 59-60.

• 数字电子电路
• 测试技术

科学技术的发展在某种程度上带动了数字电子电路技术的进步,但芯片体积的不断缩小使得电子电路设计变得愈加困难,鉴于此,有必要对数字电子电路测试技术进行优化。本文主要对当前的数字电子电路测试技术进行研究和分析。