光耦失效的几种常见原因及分析

作者：王小龙; 冯勇雄

来源：河南科技, 2019, (07): 63-65.

• 光耦
• 失效
• 封装
• 金线绑定
• 过电压击穿

本文首先总结了光耦失效的几种模式,然后基于线性光耦的工作原理、制程,找出光耦失效的原因,并阐述了在光耦生产过程、光耦应用等环节如何进行调查分析,以期为相关学者的研究提供参考。