对铁基高温合金GH2132进行450℃低温等离子体渗氮。利用扫描电子显微镜、X射线衍射技术分析研究渗氮层组织结构特点。结果表明:渗氮层由高硬度且耐蚀性更好的奥氏体基过饱和氮固溶体,即膨胀奥氏体γN相组成。γN相的点阵参数由表及里沿渗层深度逐渐降低,且点阵膨胀相对于基体奥氏体呈各向异性。渗层厚度约23μm,呈双渗层结构,即形成了内扩散层。
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
