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摘要
本发明公开了一种双光束LAAS同位素比高精度快速测量装置及方法,所述装置包括：第二分光片用于对第一可调谐激光进行分光,分光后少部分进入第一光电探测器,大部分进入第一偏振分束棱镜；第三分光片用于对经过第二反射镜后的第二可调谐激光进行分光,分光后少部分进入第二光电探测器,大部分进入第一偏振分束棱镜；第一光电探测器和第二光电探测器分别用于测量进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光的强度；第三光电探测器和第四光电探测器分别用于测量进入其的第一可调谐激光和第二可调谐激光的强度。本发明极大提高了同位素比测量精度,且无需激光波长扫描、无需标定即可实现对同位素比的快速直接测量。
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