膜Zeta电位测试技术研究进展

作者:汪锰; 安全福; 吴礼光; 莫剑雄; 高从堦
来源:分析化学, 2007, 35(4): 605-610.
DOI:10.3321/j.issn:0253-3820.2007.04.032

摘要

分离膜荷电化显著地影响着膜的分离性能和耐污染能力.因此, 定量化表征膜表面(包括孔表面)电性能具有重要的理论价值和实际意义.本文系统地综述了各种膜Zeta电位测定原理、特点及其不足,并展望了膜Zeta电位的未来研究方向.

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