针对基于中国剩余定理RSA算法的光故障攻击分析

作者：王红胜; 宋凯; 张阳; 陈开颜

来源：微电子学与计算机, 2012, (01): 38-41.

• 故障注入
• 旁路攻击
• 中国剩余定理
• 密码芯片 fault injection
• side channel attack
• CRT
• cryptographic chip

基于中国剩余定理的RSA算法在智能卡和密码系统中得到广泛的应用,其安全性直接关系到人们的利益.本文使用一种简单的方法对密码芯片进行光故障注入,通过激光照射开封后的芯片,影响密码系统加密过程,获取芯片内部的秘密信息.实验说明对运行基于中国剩余定理RSA算法的密码芯片存在安全隐患.

• 单位
  中国人民解放军陆军工程大学